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產(chǎn)品中心
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產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術參數(shù):
核心優(yōu)勢:
-
最高光通量產(chǎn)品
光子通量高于1000000光子/秒/eV,采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量
-
優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%,重復采集能量漂移 < 50 meV
-
1%探測極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理:
X射線吸收精細結構譜儀 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。
實驗室單色儀XES測試幾何結構 | 實驗室單色儀XAFS測試幾何結構 |
Mn數(shù)據(jù),Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù):core to core XES 和 valence to core XES
測試數(shù)據(jù):
Foil EXAFS數(shù)據(jù)
可測元素:綠色部分可測K邊,黃色部分可測L邊
應用領域:
工業(yè)催化、儲能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等
關鍵詞:
X射線吸收精細結構譜儀
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